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材料學(xué)院于榮課題組在電子顯微學(xué)方法研究中取得突破

清華新聞網(wǎng)12月2日電 近期,清華大學(xué)材料學(xué)院于榮教授課題組提出并實(shí)現(xiàn)的“自適應(yīng)傳播因子疊層成像方法”獲得中國(guó)發(fā)明專(zhuān)利授權(quán)和軟件著作權(quán)。該方法解決了原子分辨成像中的晶帶軸偏離問(wèn)題,清除了高分辨成像和高精度測(cè)量在實(shí)驗(yàn)方面的主要障礙。

始于上世紀(jì)90年代末期的像差校正電鏡開(kāi)啟了定量電子顯微學(xué)時(shí)代。其亞埃分辨能力顯著提高了圖像的信噪比,使人們能夠?qū)Σ牧现械脑游恢眠M(jìn)行定量分析,測(cè)量精度達(dá)到5皮米。然而,實(shí)現(xiàn)這些性能要求入射電子束與晶帶軸近乎嚴(yán)格平行,毫弧度量級(jí)的偏離便足以破壞圖像質(zhì)量,引入假象,降低測(cè)量精度。如圖1所示,在常見(jiàn)的高分辨成像技術(shù)中,ABF技術(shù)和iDPC技術(shù)受晶帶軸偏離的影響很大;HAADF技術(shù)雖然受晶帶軸偏離的影響較小,但難以對(duì)輕原子成像。

圖1. 高分辨成像技術(shù)對(duì)比。樣品為SrTiO3。自上而下晶帶軸偏轉(zhuǎn)為0, 4, 8, 12 mrad。HAADF:高角環(huán)形暗場(chǎng)像;ABF:環(huán)形明場(chǎng)像;iDPC:積分差分相位襯度;FPP:固定傳播因子疊層成像;APP:自適應(yīng)傳播因子疊層成像(新方法)

疊層成像是一種結(jié)合掃描透射電鏡和相干衍射成像的計(jì)算成像方法,能夠大幅提高像差校正電鏡的空間分辨率,進(jìn)入深亞埃分辨。但是,現(xiàn)有的疊層成像方法(FPP)對(duì)晶帶軸偏離非常敏感,需要苛刻的實(shí)驗(yàn)條件。于榮課題組針對(duì)這一難題,提出并實(shí)現(xiàn)了“自適應(yīng)傳播因子疊層成像”方法(APP),成功地消除了晶帶軸偏離對(duì)空間分辨率和測(cè)量精度的影響。結(jié)果表明,即使存在明顯的晶帶軸偏離,仍能實(shí)現(xiàn)深亞埃分辨成像(圖2)和皮米測(cè)量精度(圖3)。自適應(yīng)傳播因子疊層成像方法為深亞埃分辨成像和皮米精度測(cè)量在材料科學(xué)中的廣泛應(yīng)用鋪平了道路。

圖2.疊層成像重構(gòu)效果對(duì)比。FPP為現(xiàn)有的疊層成像方法,APP為新的自適應(yīng)傳播因子疊層成像方法

圖3. 不同高分辨成像技術(shù)的原子位置測(cè)量準(zhǔn)確度和精度。HAADF為高角環(huán)形暗場(chǎng)像方法,F(xiàn)PP為現(xiàn)有的疊層成像方法,APP為新的自適應(yīng)傳播因子疊層成像方法。理論值為零

該方法的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證工作以“基于取向校正電子疊層成像方法的深亞埃分辨成像”(Deep sub-angstrom resolution imaging by electron ptychography with misorientation correction)為題發(fā)表在學(xué)術(shù)期刊《科學(xué)·進(jìn)展》(Science Advances)上。

清華大學(xué)材料學(xué)院2018級(jí)博士生沙浩治和2019級(jí)博士生崔吉哲為共同第一作者,于榮教授為通訊作者。材料學(xué)院程志英高級(jí)工程師和陳震副研究員在實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)采集方面提供了重要幫助。該研究獲得國(guó)家自然科學(xué)基金基礎(chǔ)科學(xué)中心項(xiàng)目的支持。

論文鏈接:

https://www.science.org/doi/10.1126/sciadv.abn2275

供稿:材料學(xué)院

題圖設(shè)計(jì):李娜

編輯:李華山

審核:郭玲

2022年12月02日 09:11:26

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